JP展2017 (4/19〜20)

March 6, 2017

2017年4月19日、マイドームおおさかにて開催されます【JP2017 ICTと印刷展】に参加させて頂きます。

 

刷り出し検査を「より高速」に「より高精度」に!

コレクトアイの新しい仲間【CorrectEye SIS -コレクトアイ シス-】が登場です。

 

Wetに対応した非接触スキャナー入力で、刷り出し検査、抜取り検査、刷後検査を簡単・高速・高精度にサポート。

もちろん業界トップレベルのデジタル/アナログ検査精度も更なる進化!

 

 

 

 

JP2017では、「株式会社メディアテクノロジージャパン」ブース(3-27)にて、CorrectEye SISの実機も展示させて頂きます。当日は担当者が詳しくご説明させて頂きますので、ご検討中のお客様は、是非お立ち寄りください。

 

沢山のご来場お待ちしております。

 

[株式会社メディアテクノロジージャパン JP2017案内状PDF]

 

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